| 专利名称 | 一种基于散射能谱双能窗计算岩石密度的方法 | ||
| 专利号 | ZL201610049010.3 | 授权日期 | 2018-02-16 |
| 专利简介 | 本发明采用基于散射能谱双能窗的岩石密度测量装置进行岩石密度的计算，首先基于伽马射线与物质发生康普顿散射原理记录散射伽马能谱；选定高能窗和低能窗，利用模拟或刻度的方法获得高、低能窗散射伽马计数与密度响应的函数关系式；进一步获得密度测量值校正量与高、低能窗密度测量值之差的关系以抵消岩性对测量结果的干扰，从而准确的计算被测样品的密度。本发明相对现有的放射法测量物质密度技术，具有计算准确、便捷、不受岩性影响等优势。 | ||
| 联系人 | 联系电话 | 0532-67791666 | |
| 邮箱 | 邮箱kjj@sgep.cn | ||
