| 专利名称 | 基于高压压汞分析的储层微观孔喉参数的连续表征方法 | ||
| 专利号 | ZL201410125478.7 | 授权日期 | 2016-06-01 |
| 专利简介 | 本发明涉及石油天然气勘探与开发领域，在高压压汞的基础上，建立了利用储层宏观物性参数量化表征微观孔喉结构参数的方法，优势在于只要知道某一储层的宏观物性参数及其沉积微相，就可以利用本发明的方法来确定其微观孔喉结构参数的分布特征，并且连续表征储层的微观孔喉参数的分布特征， 极大降低了孔喉参数测试的成本。 | ||
| 联系人 | 联系电话 | 0532-67791666 | |
| 邮箱 | 邮箱kjj@sgep.cn | ||
