| 专利名称 | 应用核磁共振表征致密砂岩孔径分布的标定方法 | ||
| 专利号 | ZL201510097128.9 | 授权日期 | 2017-03-22 |
| 专利简介 | 本发明为应用核磁共振表征致密砂岩孔径分布的标定方法，测量岩石孔隙度及骨架密度；碎样低温 N2 吸脱附实验，规则柱样饱和地层水状态下核磁共振测试和高压压汞测试；将 N2 吸附得到的孔体积、毛细管累计进汞曲线换算为不同孔喉半径下的孔隙度分量，综合低温 N2-高压压汞建立孔隙比例累计曲线；对比不同 C 值下的核磁共振孔隙比例累计曲线，确定最佳的标定系数， 实现核磁共振 T2 谱到孔喉半径的转换；分岩性建立标定系数 C 与反映孔喉结构的参数间联系，将同一地区相同岩性的致密砂岩储层进行核磁共振转化。应用低温 N2 吸附和高压压汞实验联合标定核磁共振 T2 谱，包含大孔、微孔和中孔部分的标定，能够有效表征致密砂岩中不同级别孔径的分布。 | ||
| 联系人 | 联系电话 | 0532-67791666 | |
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