| 专利名称 | 基于磁声电效应的非接触式导体电导率测量方法 | ||
| 专利号 | ZL201510970817.6 | 授权日期 | 2018-01-19 |
| 专利简介 | 一种基于磁声电效应的非接触式导体电导率测量方法及装置，通过将待测样品放在均匀磁场中，向样品发射一束低频声波，同时在样品另一侧检测声波的幅度和相位，利用声波在磁场中的衰减和相移，最终计算出被测样品的电导率。应用本发明的导体电导率非接触式检测系统，需要在测试之前首先在标准电导率样本中发射和检测一束校准声波，得到校准声波基准相位和幅度，然后将被测样品置入磁场中获得检测声波的幅度和相位，利用基准声波和检测声波的相位差和幅度比计算得到样品电导率。 | ||
| 联系人 | 联系电话 | 0532-67791666 | |
| 邮箱 | 邮箱kjj@sgep.cn | ||
